БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК
- 1. Суздалев И.П. Нанотехнология: физикохимия кластеров, наноструктур и наноматериалов / И.П. Суздалев. - М.: Комкнига, 2006. - 592 с.
- 2. Егоров-Тисменко Ю.К. Кристаллография и кристаллохимия: учебник. /Ю.К. Егоров-Тисменко. - М.: КДУ, 2005. - 592 с.
- 3. Шабанова Н.А. Химия и технология нанодисперсных оксидов: учебное пособие. /Н.А. Шабанова, В.А. Попов, П.Д. Саркисов. - М.: Академкнига, 2006. - 309 с.
- 4. Наноминералогия. Ультра- и микродисперсное состояние минерального вещества/под ред. Н.П. Юшкина [и др.]. - СПб.: Наука, 2005.-581 с.
- 5. Вудраф Д. Современные методы исследования поверхности/ Д. Вудраф, Т. Делчар, - ML: Мир, 1989. - 564 с.
- 6. Фостер Л. Наука, инновации и возможности / Л. Фостер. - М: Техносфера, 2008. - 352 с.
- 7. Безопасность жизнедеятельности. Безопасность технологических процессов и производств (охрана труда): учеб, пособие для вузов / П.П. Кукин [и др.]. - М.: Высшая школа, 2001. - 319 с.
- 8. Липсон Г. Определение структуры кристаллов /Г. Липсон, В. Кокрен. -М.: Изд-во иностранной литературы, 1956. -415 с.
- 9. Гинье А. Рентгенография кристаллов. /А. Гинье. - М.: Физматиздат, 1961. - 604 с.
- 10. Современная кристаллография: в 4 т. Т. 1/ под ред. Б.К. Вайнштейна. - М.: Наука, 1961. - 384 с.
- 11. Миркин Л.И. Рентгеноструктурный анализ. Индицирова- ние рентгенограмм: справочное руководство /Л.И. Миркин. - М.: Наука, 1981. - 496 с.
- 12. Егоров-Тисменко Ю.К. Кристаллография и кристаллохимия: учебник /Ю.К. Егоров-Тисменко. - М.: КДУ, 2005. 592 с.
- 13. Горшков В.С. Физическая химия силикатов и других тугоплавких соединений /В С. Горшков, В.Г. Савельев, Н.Ф. Федоров. - М.: Высш. шк., 1988. - 400 с.
- 14. Лидер В.В. Фазочувствительные рентгеновские методы характеризации конденсированных сред: учебное пособие / В.В. Лидер. - М.: Ин-т кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, 2009. - 90 с.
- 15. Порай-Кошиц М.А. Практический курс рентгеноструктурного анализа/М.А. Порай-Кошиц-М.: МГУ, 1960. -631 с.
- 16. Чичагов А.В. Рентгенометрические параметры твердых растворов: справочник / А.В. Чичагов, Л.В. Сипавина. - М.: Наука, 1982.- 171 с.
- 17. Синдо Д. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия /Д. Синдо, Т. Оикава. - М.: Техносфера, 2006. - 256 с.
- 18. Шабалин И.Л. Поверхностные и собственно наноструктуры жидких, твердых и газообразных веществ /И.Л. Шабалин. - Новосибирск: СНИИГГиМС, 2009. - 307 с.
- 19. Нанокластеры и нанокристаллы [Электронный ресурс]. - Режим доступа: www.phy sics.by/e 107_files/mono/monograf_4fed_pdf/ 4fed_gl4.pdf, свободный.
- 20. Синтез додекаэдрических нанокристаллов золота [Электронный ресурс]. - Режим доступа: http://perst.issp.ras.ru/Control/Inform/ perst/2014/14 05/14_05_ 10.jpg, свободный.
- 21. Оже-спектроскопия [Электронный ресурс]. - Режим доступа: http://www.femto.com.ua/articles/part_2/2582.HTML, свободный.
СПИСОК УСЛОВНЫХ ОБОЗНАЧЕНИЙ И СОКРАЩЕНИЙ
АФС - атомно-флюоресцентная
ААС - атомно-абсорбционная
АЭС - атомно-эмиссионная
ACM - атомно-силовая микроскопия
ГЦК - гранецентрированная решетка
ГПУ - гексагональная плотноупакованная решетка
К.Ч - координационное число
К.М - координационный многогранник
МЫ - молекулярное наслаивание
ОЦК - объемно центрированная решетка
ТГ - термогравиметрия
ДТГ - дифференциальный термогравиметрический анализ
ДСК - дифференциальная сканирующая калориметрия
ЭПР - электронно-парамагнитный резонанс
ПМЦ - парамагнитные центры
ПЭМ - просвечивающая электронная микроскопия
ВРПЭМ - электронную микроскопию высокого разрешения
МС - мессбауэровская спектроскопия
ОЭС - оже-электронная спектроскопию.
ЭОС - электронная оже-спектроскопия
ФОС - фотоэлектронная оже-спектроскопия
ИОС - ионная оже-спектроскопия
ПС - переходное состояние
ППЭ - поверхность потенциальной энергии
ПРЭМ - просвечиващая растровой электронная микроскопия
High Resolution Transmission Electron Microscopy
РЭА - рентгеноэмиссионный
PAA - рентгеноабсорбционный
РФА - рентгенофлюоресцентный
РФЭС - рентгеновскую фотоэлектронную
СЭМ - сканирующая (растровая) электронная микроскопия
СТМ - сканирующий туннельноый микроскоп
ССМ - сканирующая силовая микроскопия
ПСЖ - полисиликат железа
М- мультиплетность
Ф.Е - формульная единица
Э.Я - электронные ядра
ЯМР - ядерный магнитный резонанс ЭПР - электронный парамагнитный резонанс ЯКР - ядерный квадрупольный резонанс AFM - Atomic Force Microscopy
HRTEM- High Resolution Transmission Electron Microscopy
ТЕМ - Transmission Electron Microscopy
PEELS - Parallel Electron Energy Loss Spectroscopy
SES - Secondary Electron Spectroscopy
SFM - Scanning Force Microscopy
XEDS - X-ray Energy Dispersed Spectroscopy
STEM - Scanning Transmission Electron Microscopy
SEM - Scanning Electron Microscopy
